Features |
Principle |
Fluorescence radiation of the elements of a sample can cause fluorescence radiation inside the detector and its housing if the energy is sufficiently high. As a result, the spectrum may include lines that are not caused by the sample. For the detection of potential additional lines, the detector is subjected to monochromatic X-radiation with the aid of a monocrystal. For comparison, the fluorescence spectra of pure metal samples are measured. |
Tasks |
1. Calibrate the semiconductor energy detector with the aid of the characteristic fluorescence radiation of the calibration sample. |
2. Irradiate the X-ray energy detector with monoenergetic X-rays that are produced by the Bragg reflection on an LiF monocrystal. Measure the resulting fluorescence spectrum. |
3. Determine of the energy of the spectrum lines. |
4. Assign the lines to elements by comparing the measured values with table values. |
5. Comparative measurement and evaluation of the fluorescence spectra of pure metal samples. |
What you can learn about |
Bremsstrahlung |
Characteristic X-radiation |
Fluorescence radiation |
Fluorescent yield |
Interference of X-rays |
Crystal structures |
Bragg's law |
Compton scattering |
Escape peaks |
Semiconductor energy detectors |
Multichannel analysers |
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