Features |
Principle |
Various metal samples are subjected to polychromatic X-rays. The resulting fluorescence radiation is analysed with the aid of a semiconductor detector and a multi-channel analyser. The maxima of intensity of the corresponding characteristic X-ray lines are determined. The predefined energy values of the characteristic lines and channels of the multichannel analyser that must be assigned in turn result in a calibration of the semiconductor energy detector. |
Tasks |
1. Record the spectra of the fluorescence radiation that is generated by the metal samples. |
2. Determine the channel numbers of the maxima intensity of the characteristic lines of the corresponding fluorescence radiation. |
3. Represent the predefined line energies as a function of the channel numbers graphically for two gain factors of the multichannel analyser. |
What you can learn about |
Bremsstrahlung |
Characteristic X-radiation |
Energy levels |
Fluorescence radiation |
Conduction processes in semiconductors |
Doping of semiconductors |
Pin-diodes |
Semiconductor energy detectors |
Multichannel analysers |
Descripsion | Code | Q'ty |
XR 4.0 expert unit, 35 kV | 09057-99 | 1,00 |
XR 4.0 X-ray goniometer | 09057-10 | 1,00 |
XR 4.0 X-ray Plug-in Cu tube | 09057-51 | 1,00 |
XR 4.0 X-ray material upgrade set | 09165-88 | 1,00 |
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