Principle
Approaching a sharp silicon tip mounted on a cantilever to a sample surface leads to an atomic scale interaction. The result is a bend of the cantilever which is detected by a laser. In static mode the resulting deflection is used to investigate the topography of the sample surface line by line using a feedback loop. In dynamic mode the cantilever is oscillated at fixed frequency resulting in a damped amplitude near the surface. The measurement parameters (setpoint, feedback gain) play a crucial role for image quality. Their effect on the imaging quality is investigated for different nano structured samples.
Benefits
Tasks
What you can learn about
Software included. Computer not provided.
- 배송비 : 기본배송료는 2,500원 입니다. (도서,산간,오지 일부지역은 배송비가 추가될 수 있습니다) 100,000원 이상 구매시 무료배송입니다.
- 본 상품의 평균 배송일은 2일입니다. 설치 상품의 경우 다소 늦어질수 있습니다.
- 개봉으로 상품 가치 훼손 시에는 상품수령후 7일 이내라도 교환 및 반품이 불가능합니다.
- 저단가 상품, 일부 특가 상품은 고객 변심에 의한 교환, 반품은 고객께서 배송비를 부담하셔야 합니다(제품의 하자,배송오류는 제외)
- 일부 상품은 신모델 출시, 부품가격 변동 등 제조사 사정으로 가격이 변동될 수 있습니다.
- 소비자분쟁해결 기준(공정거래위원회 고시)에 따라 피해를 보상받을 수 있습니다.
- A/S는 판매자에게 문의하시기 바랍니다.
상품이 장바구니에 담겼습니다.
바로 확인하시겠습니까?
상품이 찜 리스트에 담겼습니다.
바로 확인하시겠습니까?